成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000
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產(chǎn)品名稱: 成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000
產(chǎn)品型號(hào): SU9000
產(chǎn)品展商: 日本日立HITACHI
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000
專門為電子束敏感樣品和需大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000
的詳細(xì)介紹
特點(diǎn)
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新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計(jì)提高了低加速電壓性能。
0.4 nm / 30 kV (SE)
1.2 nm / 1 kV (SE)
0.34 nm / 30 kV (STEM)
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用改良的高真空性能和****的電子束穩(wěn)定性來(lái)實(shí)現(xiàn)高效率截面觀察。
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采用全新設(shè)計(jì)的Super E x B能量過(guò)濾技術(shù)，高效，靈活地收集SE / BSE/ STEM信號(hào)。
